采用高精度分度盘的定位与往复凸轮式可控上电极，大大提高了测试的稳定性，降低了测试过程中晶片的破损率。适合多种类型、规格的晶片分选，兼顾大尺寸与 SMD 晶片。
分选精度 ≥95%（三杯）。
高精度分度盘定位，往复凸轮控制上电极，零点调节方便。
兼顾大尺寸与 SMD 晶片，换料停机少。
针对石英晶片设计，减少破损。
南京市玄武区康园路 20 号空间大数据 C 栋 2 层周一-周六 8:30–17:00
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